A.2.2  Sự điều chỉnh quang phổ

Sự phân bố năng lượng quang phổ S_λ của ánh sáng được chiếu vào mẫu thử sẽ tương đương với sự chiếu sáng của chuẩn chiếu sáng CIE A. Độ nhạy quang phổ tương đối s (λ) của bộ nhận phải được điều chỉnh để phù hợp với hiệu suất tỏa sáng quang phổ tương đối V (λ), có tính đến hệ số truyền T (λ) của hệ thống quang học (xem CIE Publication No.15.2) sao cho:

V(λ).S(λ, A) = a.S(λ).t(λ).s(λ)

trong đó

V(λ) là hiệu suất quang phổ chiếu sáng;

S(λ, A) là sự phân bố năng lượng quang phổ của chuẩn chiếu sáng CIE A.

a là hằng số tỷ lệ;

S(λ) là sự phân bố năng lượng quang phổ của nguồn chiếu sáng;

s(λ) là độ nhạy quang phổ tương đối của bộ nhận;

...

...

...

Sai lệch so với phần tỷ lệ không vượt quá 10 % và được xác định như thông số lỗi đặc tính f₁ theo CIE Publication No.38.

A.2.3  Tính chất tuyến tính và độ lệch hiển thị

Khi ánh sáng phản xạ bởi bề mặt mẫu thử đến bộ nhận quang điện tử, nó sẽ tạo ra một dòng điện tử. Dòng điện tử này phải tỷ lệ với cường độ ánh sáng với sai số không được vượt quá 0,5 %.

Độ lệch của giá trị phản xạ kế trong khoảng 12 h không vượt quá 1 % của giá trị đo hoặc 0,1 đơn vị phản xạ kế, tùy thuộc vào giá trị nào lớn hơn.

Đối với độ lệch lớn hơn cần thiết phải hiệu chuẩn trước.

A.2.4  Sự phân cực

Ánh sáng phát ra từ ống chuẩn trực (collimator) phải không có sự phân cực. Mức độ phân cực P phải ≤ 0,2, trong đó P được xác định như sau:

                                                                                              (A.2)

trong đó

...

...

...

P_min là giá trị phản xạ kế nhỏ nhất tương ứng.

Bộ nhận quang điện tử sẽ đánh giá ánh sáng phản xạ độc lập với sự phân cực của nó.

A.3  Bộ phận giữ mẫu thử

Mẫu thử phải được giữ bởi dụng cụ giữ mẫu sao cho bề mặt của nó phẳng trong vùng được chiếu sáng. Đường pháp tuyến của mặt phẳng sẽ là đường trung tuyến của góc được tạo thành bởi trục quang học của ống chuẩn trực (collimator) và decollimator. Sự thẳng hàng của mặt phẳng có thể đạt được bằng cách sử dụng một tấm hút. Đường kính của lỗ hút vào phải đủ nhỏ để không làm biến dạng mẫu thử.

Phụ lục B

(tham khảo)

Tổ chức được chỉ định hiệu chuẩn các chuẩn độ bóng trung gian

Viện nghiên cứu liên bang về vật liệu và thử nghiệm (Federal Institute for Materials Research and Testing) (BAM), Unter den Eichen 87, D-12205 Berlin.

...

...

...

Phụ lục C

(tham khảo)

Thư mục tài liệu tham khảo

[1] MacGregor M.A., Jonhansson P., A, Gloss uniformity in coated paper, TAPPI Coating Conference 1991, pp 495 to 504.

[2] EN 14086 Paper and board - Measurement of specular gloss - 45^o gloss with a parallel beam, DIN method.

[3] TCVN 10794-1 (ISO 8254-1), Giấy và các tông - Xác định độ bóng phản chiếu - Phần 1: Độ bóng tại góc 75^o với chùm tia hội tụ, phương pháp TAPPI.

[4] ISO/DIS 8254-3 Paper and board - Measurement of specular gloss - Part 3: 20^o gloss.

[5] ISO 7944 Optics and optical instruments - Reference wavelengths.

...

...

...

[7] CIE-Publication No.17.4 (1987) International lighting vocabulary.

[8] CIE-Publication No.69 (1987) Methods of characterizing illuminance meters and luminance meters: performance, characteristics and specification.

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN10974-2:2015 (ISO 8254-2:2003) về Giấy và các tông - Xác định độ bóng phản chiếu - Phần 2: Độ bóng tại góc 75° với chùm tia song song, phương pháp DIN