6.2.2. Sự tồn tại của pha a được xác định sau khi tẩm thực bề mặt, ví dụ tẩm thực theo kỹ thuật 1, hoặc sự hiện diện của g, tẩm thực theo kỹ thuật 2 (xem Bảng 1). Pha a đã được chú giải và ghi ảnh lại. Kích thước của nó đã được đo và ghi ảnh vào TCVN 5052 - 2 (ISO 4499-2) theo cấp độ để nhận biết như là nano, siêu mịn, dưới micron, mịn, mịn vừa, thô và rất thô (xem Ảnh 1, 2 và 3). Độ phóng đại đã được lựa chọn để có thể so sánh được các cấp độ gần kề nhau. Đối với hợp kim có hạt mịn, ảnh hiển vi quang học không phân giải rõ được tổ chức hạt, phải dùng ảnh hiển vi điện tử mới quan sát được.

6.2.3. Pha b được nhận dạng sau khi tẩm thực bề mặt, ví dụ tẩm thực theo phần hai của kỹ thuật 2 trong Bảng 1 (HCI đậm đặc). Pha này giữ lại màu trắng.

6.2.4. Sự tồn tại của pha g (gamma) được xác định sau khi tẩm thực bề mặt, ví dụ tẩm thực theo kỹ thuật 2 (xem Bảng 1). Pha này có màu vàng-nâu sáng và có hình dạng điển hình được vê tròn. Vùng tẩm thực đã được kiểm tra và sự tồn tại của pha g đã được chú giải và ghi ảnh. Kích thước của nó có thể đo được theo kỹ thuật đo điểm cắt đường thẳng có phác họa trong TCVN 5052-2 (ISO 4499-2).

a) Nano - Kính quang học

b) Nano - Kính điện tử

...

...

...

d) Siêu mịn - Kính điện tử

Hình 1 - pha a (WC) - Kính hiển vi quang học và kính hiển vi điện tử quét (SEM) hạt nano và siêu mịn

a) Dưới micro - Kính quang học

b) Dưới micro - Kính điện tử

c) Mịn - Kính quang học

...

...

...

e) Mịn vừa - Kính quang học

f) Mịn vừa - Kính điện tử

Hình 2 - pha a (WC) - Kính hiển vi quang học và kính hiển vi điện tử quét (SEM) hạt dưới micro, mịn và mịn vừa

a) Thô - Kính quang học

b) Thô - Kính điện tử

...

...

...

c) Rất thô - Kính quang học

d) Rất thô - Kính điện tử

Hình 3 - pha a (WC) - Kính hiển vi quang học và kính hiển vi điện tử quét (SEM) hạt thô và rất thô

7. Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải bao gồm các thông tin sau:

a) Số hiệu của tiêu chuẩn này;

b) Những chi tiết cần thiết để nhận biết về mẫu thử;

c) Kết quả thu được;

...

...

...

e) Chi tiết về các sự cố có thể ảnh hưởng tới kết quả thử.

TÀI LIỆU THAM KHẢO

[1] BENNETT, E.G. và ROEBUCK, B. The metallographic Measurement of WC Grain Size. NPL Good Practice Guide 22, August 1999 (Đo độ lớn hạt WC bằng phương pháp kim tương).

[2] ASTM B665, Standard Guide for Metallogaphic Sample Preparation of Cemented Tungsten Carbides (Tiêu chuẩn chỉ dẫn sự chuẩn bị mẫu kim tương mẫu hợp kim cứng hệ cabit vonfram).

[3] ASTM B657, Guide for Metallographic Identification of Microstructure in Cemented Carbides (Hướng dẫn nhận dạng tổ chức tế vi hợp kim cứng hệ cacbit).

1) Texmet và DP Pan là ví dụ sản phẩm thích hợp có bán trên thị trường. Thông tin này nhằm giúp cho người sử dụng tiện sử dụng, không cần phải tiếp tục xin chứng nhận ISO cho những sản phẩm này nữa.

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 5052-1:2009 (ISO 4499-1 : 2008) về Hợp kim cứng - Xác định tổ chức tế vi bằng phương pháp kim tương - Phần 1: Phương pháp chụp ảnh tổ chức tế vi và mô tả