Đặc tính

Thử nghiệm số

IEC 326-2

Nội dung thử nghiệm bổ sung cần được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Mẫu thử của tâm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm

Yêu cầu

Ghi chú

Kiểm tra chung

Kiểm tra bằng mắt

Sự phù hợp và nhận dạng

1

*

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Dạng mạch in, ghi nhãn, nhận dạng, vật liệu và chất lượng phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan. Không được có các khuyết tật rõ rệt

Ngoại quan và chất lượng gia công

1a

Tấm mạch in phải chứng tỏ đã sản xuất cẩn thận với kỹ thuật phù hợp với công nghệ hiện hành

Các mép tấm và các phần cắt bỏ bên trong tấm phải sạch gọn, không nham nhở hoặc bị sứt mẻ

Mép tấm

Đường dẫn điện không được tách rời khỏi tấm nền, do các vết phồng rộp, vết nhăn quá mức cho phép trong qui định kỹ thuật về vật liệu

Độ kết dính của đường dẫn điện với tấm nền

Độ kết dính của lớp phủ với tấm nền và dạng mạch in

1a

Lớp phủ phải hoàn toàn kín và đồng nhất. Những chỗ khuyết nhỏ, nếu có, chỉ được phép tại những vị trí sau:

1a

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

a) tại những vị trí bất kỳ xa các đường dẫn điện. Mỗi chỗ khuyết này có diện tích không được quá 5 mm² và phải cách mép quá 0,5 mm

b) dọc theo mép đường dẫn điện, ước lượng bằng mắt thường, chỗ khuyết này không được phạm vào quá 20% chiều rộng thiết kế giữa hai đường dẫn điện

Chiều rộng lớp phủ phải tối thiểu là 0,5 mm giữa hai đường dẫn điện kề nhau. Không cho phép có chỗ khuyết nếu khoảng cách giữa hai đường dẫn nhỏ hơn 0,5 mm

Ví dụ về vết bong cho trên hình 5

Khuyết tật ở đường dẫn điện

1b

Không được có vết nứt hoặc vết đứt đoạn. Những lỗi như chỗ khuyết hoặc khuyết tật ở mép chỉ cho phép nếu chiều rộng của đường dẫn điện hoặc đường rò giữa các đường dẫn không bị giảm quá mức qui định trong các qui định kỹ thuật liên quan, ví dụ 20% hay 35%

Khi cần thiết điều này phải được kiểm tra kích thước theo thử nghiệm 2a

Vết kim loại giữa các đường dẫn điện

1b hoặc 1c

F

Những vết kim loại sót lại có thể cho phép nếu đường rò không bị giảm quá 20% hoặc không nhỏ hơn khoảng cách yêu cầu đối với điện áp của mạch

Khi cần thiết điều này phải được kiểm tra kích thước theo thử nghiệm 2a

Kiểm tra kích thước

Kích thước tấm mạch in

2

Các kích thước và dung sai phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều dày danh nghĩa của tấm mạch in cũng phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Lỗ

2

Đường kính danh nghĩa và dung sai của lỗ lắp đặt và lỗ lắp linh kiện phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Khoảng kích cỡ và dung sai của lỗ được cho trong IEC 326-3

Lỗ tiếp dẫn

2

Phần lớp phủ của tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Độ đồng tâm của lỗ tiếp dẫn với vành khuyên tươ ng ứng trên vật liệu nền có tính đến sự ảnh hưởng của vết bong chất kết dính trong lớp phủ phải sao cho độ rộng theo hướng kính không giảm xuống thấp hơn giá trị tối thiểu được qui định trong qui định kỹ thuật liên quan (xem hình 4)

Kích thước của vành khuyên hữu ích tối thiểu tại điểm bất kỳ quanh lỗ khuyến cáo là: 0,15 mm

Khe, rãnh

2

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Kích thước phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Chiều rộng của đường dẫn điện

2

Chiều rộng của đường dẫn điện phải phù hợp với kích thước riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Nếu không nêu ra dung sai thì áp dụng sai lệch thô cho trong IEC326-3

2a

Có thể cho phép những khuyết tật như chỗ khuyết hay khuyết tật ở mép nếu chiều rộng của đường dẫn điện không bị giảm quá giá trị cho trong qui định kỹ thuật liên quan, ví dụ 20% hoặc 30%. Chiều dài L của khuyết tật không được lớn hơn chiều dày đường dẫn điện S hoặc 5 mm chọn giá trị nhỏ hơn (xem hình 2)

Khoảng cách giữa các đường dẫn điện

2

F

Khoảng cách này phải phù hợp với các kích thước riêng được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Độ lệch giữa lỗ và vành khuyên

1a

2a

Tấm tổ hợp các dạng mạch in thử nghiệm hoàn chỉnh

Trên vành khuyên không được có vết đứt. Điểm nối vành khuyên với đường dẫn điện không được đứt rời

Dung sai về vị trí của các tâm lỗ

Tâm lỗ phải nằm trong giới hạn sai lệch được cho trong qui định kỹ thuật liên quan

Thử nghiệm điện

Điện trở cách điện

6

E

Điện trở cách điện phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Điện trở cách điện được đo trước và sau các thử nghiệm môi trường và ở nhiệt độ tăng cao, như qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

ổn định trước

18a

*

Đo ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

6

*

ổn định theo IEC 68-2-3, thử nghiệm Ca: Nóng ẩm không đổi; hoặc IEC 68-2-38, thử nghiệm Z/DA: Thử nghiệm chu kỳ hỗn hợp nhiệt độ/độ ẩm

ổn định áp dụng theo qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Phép đo ở nhiệt độ tăng cao

6

*

Không áp dụng đối với các vật liệu polyeste

Thử nghiệm cơ

Độ bền bong tróc

Giữa đường dẫn điện và vật liệu nền

G

Độ bền bong tróc phải phù hợp với qui định kỹ thuật liên quan

Các đường dẫn điện không có lớp phủ

Phép đo ở điều kiện khí quyển tiêu chuẩn

10a

*

Phép đo ở nhiệt độ tăng cao

10b

*

Không áp dụng với các vật liệu polyeste

Độ bền kéo đứt

11a

*

J

Vành khuyên không được bong ra trong quá trình hàn. Độ bền kéo đứt không được nhỏ hơn giá trị qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Đối với thử nghiệm này, mẫu thử phải được đỡ bằng một tấm cứng

Mỏi do uốn

*

Đang xem xét

Các thử nghiệm khác

Chất lượng của lớp phủ kim loại

Độ kết dính của lớp phủ kim loại, phương pháp dán băng

13a

K

Không được có dấu hiệu lớp phủ kim loại dính vào băng khi tách băng ra khỏi đường dẫn ngoại trừ các vết kim loại bám vào

Độ dày của lớp phủ kim loại (vùng có tiếp điểm)

13f

*

K

Độ dày này phải phù hợp với qui định trong qui định kỹ thuật liên quan

Khả năng hàn

14a

*

H, A

Đường dẫn điện phải được phủ một lớp thiếc sáng, bóng, không có nhiều vết khuyết tật (khoảng 5%) như các lỗ châm kim, các chỗ không bám thiếc. Các khuyết tật này không được nằm tập trung tại một vùng trên bề mặt

Không áp dụng cho vật liệu polyeste.

Với vật liệu polyimide, có thể cần sấy khô để bảo vệ khi hàn

Thử nghiệm được tiến hành ở điều kiện nghiệm thu hay sau khi lão hoá gia tốc do thoả thuận giữa người mua và người bán

Chất trợ dung trung tính được qui định trong 6.6.1 của IEC 68-2-20

A) Khi sử dụng chất trợ dung trung tính được thoả thuận giữa người mua và người bán

ở điều kiện nghiệm thu

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 2 s

Khi có sử dụng lớp phủ bảo vệ tạm thời nhằm duy trì khả năng hàn thì mẫu thử bám thiếc trong vòng 3 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

Sau quá trình lão hoá gia tốc

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 4 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

B) Khi sử dụng chất trợ dung hoạt tính được thoả thuận giữa người mua và người bán

Chất trợ dung hoạt tính (0,2%) được qui định trong 6.6.2 của IEC 68-2-20

ở điều kiện nghiệm thu và sau quá trình lão hoá gia tốc

Đối với các tấm có hoặc không có lớp phủ bảo vệ tạm thời để hàn

Bám thiếc: Mẫu thử phải bám thiếc trong vòng 2 s

Trôi thiếc: Mẫu thử phải tiếp xúc với thiếc nóng chảy từ 5 s đến 6 s mà không được trôi thiếc

Độ bền chịu dung môi và chất trợ dung

17a

*

Không có dấu hiệu:

− phồng rộp hay bong lớp;

− bong lớp phủ hoặc mực;

− phân hủy;

− thay đổi đáng kể về màu sắc

Chấp nhận:

a) các ký hiệu không bị ảnh hưởng;

b) các ký hiệu bị mờ nhưng vẫn đọc được

Loại bỏ:

a) ký hiệu không đọc được hoặc bị phá hủy;

b) các ký hiệu đọc được không rõ ràng, có thể bị nhầm lẫn giữa các chữ tươ ng tự nhau như: R-P-B, E-F, C-G-O