5.1.3  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra giá trị lớn nhất đạt được từ việc thiết lập 9 phép đo.

5.2  Chiều cao và trắc diện bề mặt của sọc từ

Mục đích của thử nghiệm này là xác định chiều cao và độ phẳng của sọc từ của một mẫu thử nghiệm thẻ (xem TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), và ISO/IEC 8484).

Chiều cao của sọc từ được xác định bằng cách tham chiếu đến thẻ và trắc diện bề mặt sọc từ.

5.2.1  Dụng cụ

Yêu cầu các hạng mục sau:

a) một máy đo biến dạng (xem Hình 3);

b) một tấm kim loại cứng có khía chỉ ra như trong Hình 4. Bất kỳ kim loại cứng nào có thể được dùng để tạo thành tấm, nhưng chiều dày của tấm kim loại cứng phải được điều chỉnh, theo mật độ của vật liệu, đạt trọng lượng 2,2 N ± 0,1 N (0.49 lbf ± 0.02 lbf). Tất cả các kích thước của tấm kim loại phải là ± 0,5 mm (0.02 in) hoặc hơn.

...

...

...

Hình 3 - Thiết bị đo chiều cao và trắc diện của sọc từ (không phải theo tỷ lệ thang đo)

Hình 4 - Vùng phẳng có tiếp xúc dành cho kẹp giữ thẻ (kích thước theo mm, không phải theo tỉ lệ thang đo)

5.2.2  Qui trình

Giữ thẻ để thử nghiệm in khắc bởi tấm kim loại cứng được chỉ ra trong Hình 4.

Đo chiều cao và trắc diện bề mặt của sọc từ và bề mặt thẻ xung quanh bằng cách sử dụng một công cụ ghi kết quả đo.

Đo trắc diện với tốc độ lớn nhất 1 mm/s (0.04 in/s) sử dụng một đầu dò có bán kính 0,38 mm đến 2,54 mm (0.015 in đến 0.1 in) tác dụng lực từ 0,5 mN đến 6 mN (0.0001 lbf đến 0.0013 lbf).

Lấy 3 phép đo trên từng mẫu với chiều rộng sọc từ. Các vị trí V và Y được xác định với khoảng cách 15 mm ± 2 mm (0.59 in ± 0.08 in) từ mỗi điểm cuối của thẻ và vị trí X là đường chính giữa của thẻ (xem Hình 5).

Phải đo các vùng bổ sung nếu các độ lệch về chiều cao hoặc trắc diện bề mặt xuất hiện trong vùng đó lớn hơn 3 vùng được chỉ định.

...

...

...

CHÚ THÍCH Trong việc chuẩn bị đo trắc diện bề mặt thẻ thử nghiệm, cần vạch nhẹ một đường thẳng bằng cách sử dụng một dao sắc, song song với các cạnh tham chiếu trên đỉnh thẻ để định vị chiều rộng sọc từ nhỏ nhất W trong việc ghi trắc diện.

Hình 5 - Định vị đo trắc diện sọc từ (kích thước theo mm, không phải theo tỷ lệ thang đo)

5.2.3  Thể hiện kết quả

5.2.3.1  Trắc diện bề mặt của sọc từ

Đối với phép đo dọc theo đường V, X, và Y (xem Hình 5), tạo một đường đo cơ sở đầu tiên (xem Hình 6 và Hình 7) bằng cách nối các điểm đầu và cuối xác định các cạnh của chiều rộng sọc từ nhỏ nhất. Đường đo cơ sở phải nằm trong khoảng 10^o theo hướng ghi biểu đồ.

Độ lệch dọc lớn nhất (a) là khoảng cách giữa đường đo cơ sở và điểm trên các phương tiện truyền thông từ cách xa đường đo cơ sở. Phép đo phải được thực hiện theo hướng vuông góc với hướng ghi biểu đồ.

Trong đó

...

...

...

b 1 mm (nhỏ nhất)

W Độ rộng của sọc từ nhỏ nhất theo qui định trong tiêu chuẩn cơ bản liên quan

Hình 6 - Trắc diện sọc từ lõm

Trong đó

a độ lệch dọc lớn nhất

b 1 mm (nhỏ nhất)

W Độ rộng của sọc từ nhỏ nhất theo qui định trong tiêu chuẩn cơ bản liên quan

Hình 7 - Trắc diện sọc từ lồi

...

...

...

Ba phép đo dọc theo đường V, X, và Y tạo thành một đường đo cơ sở bằng cách nối các điểm đầu và cuối (xem Hình 8 và Hình 9). Đường đo cơ sở phải nằm trong khoảng 10^o theo hướng ghi biểu đồ.

Độ lệch dọc lớn nhất (h) là khoảng cách giữa đường đo cơ sở và điểm trên các phương tiện truyền thông từ cách xa đường đo cơ sở. Phép đo phải được thực hiện theo hướng vuông góc với hướng ghi biểu đồ.

Trong đó

b 1 mm (nhỏ nhất)

h độ lệch dọc lớn nhất như được qui định trong tiêu chuẩn cơ bản liên quan

Hình 8 - Trắc diện sọc từ lõm

Trong đó

...

...

...

h độ lệch dọc lớn nhất như được qui định trong tiêu chuẩn cơ bản liên quan

Hình 9 - Trắc diện sọc từ lồi

5.2.4  Báo cáo thử nghiệm

5.2.4.1  Trắc diện bề mặt của sọc từ

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra các giá trị của 3 phép đo về độ lệch dọc lớn nhất (a) thu được từ các đường dọc V, X, và V.

5.2.4.2  Chiều cao của sọc từ

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra các giá trị của 3 phép đo về độ lệch dọc lớn nhất (h) thu được từ các đường dọc V, X, và Y.

5.3  Độ nhám bề mặt của sọc từ

Mục đích của thử nghiệm này là xác định độ cứng của sọc từ trong một mẫu thử nghiệm thẻ (xem TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), và ISO/IEC 8484).

...

...

...

Độ nhám bề mặt của sọc từ phải được đo với một dụng cụ ghi đo chỉ ra như trong Hình 3. Thực hiện ít nhất 3 phép đo trong mỗi chiều, đi qua những vùng có bề mặt nhám xuất hiện xấu nhất.

Tất cả điều kiện thử nghiệm qui định tại 5.2 áp dụng trừ:

- kim đầu dò có bán kính 2 μm (79 μin) hoặc 5 μm (197 μin);

- chiều dài bước sóng cắt và chiều dài ước lượng độ nhám phải được chọn theo ISO 3274 và ISO 4288;

- phép đo theo chiều ngang và chiều dọc được thực hiện trên sọc từ.

5.3.2  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra các giá trị trung bình đường chính giữa Ra về độ nhám của sọc từ thu được bằng cách đo theo cả 2 hướng dọc và ngang.

5.4  Thử nghiệm mài mòn sọc từ

Mục đích của thử nghiệm này là xác định biên độ tín hiệu của sọc từ ở một mẫu thử nghiệm thẻ sau khi việc mài mòn được kiểm soát (xem TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811- 6), TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7), và TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8)).

...

...

...

Một đầu mẫu giả kim loại có độ cứng trong dải 110 HV - 130 HV (thang đo Vickers) hoặc tương đương thang đo Rockwell. Các kích thước yêu cầu như trong Hình 10.

Khả năng tấm phẳng cứng có thể giữ thẻ đứng yên.

Hình 10 - Kích thước vùng tiếp xúc với đầu mẫu giả (kích thước theo mm, không phải theo tỉ lệ thang đo)

5.4.2  Qui trình

Ghi thẻ mẫu tại 20 ft/mm (508 ftpi) sử dụng một dòng điện ghi thử nghiệm I_min, đọc và ghi chú biên độ tín hiệu, được đo theo qui định trong tiêu chuẩn cơ bản.

Buộc chặt thẻ để sọc từ lên cao nhất vào tấm phẳng để đầu mẫu giả có thể đi qua theo chiều dài của sọc từ hoặc theo cách khác, thẻ có thể di chuyển dưới đầu mẫu giả (xem Hình 11). Cẩn trọng khi gắn thẻ lên tấm phẳng cứng để đảm bảo thẻ được giữ phẳng và cố định trong các thử nghiệm được thực hiện.

Đặt một lực 1,5 N ± 0,2 N (0.34 lbf ± 0.05 lbf) ở đầu và cho phép đầu dịch chuyển quay lại và ở phía trước một tốc độ giữa 200 mm/s (7.9 in/s) và 500 mm/s (19.7 in/s) cho 2000 vòng, (1 vòng tương đương với một chuyển động lên trước và 1 chuyển động lùi sau). Biên độ tín hiệu đọc trên cùng dụng cụ và so sánh kết quả với biên độ đạt được tại thời điểm bắt đầu từ thử nghiệm.

Vị trí các đầu ghi và đọc phải hoàn toàn nằm trong vùng của khu vực vỏ bọc từ đầu mẫu giả.

...

...

...

Hình 11- Đầu mẫu giả và sọc từ (không phải theo tỷ lệ thang đo)

5.4.3  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra cá giá trị của các biên độ tín hiệu xác định theo tiêu chuẩn cơ bản, được đo trước và sau khi bọc vỏ.

5.5  Phép đo biên độ

Mục đích của thử nghiệm này là đo biên độ tín hiệu, độ phân giải, việc xóa, việc khử từ, và các đặc tính dạng sóng sọc từ của một mẫu thử nghiệm thẻ nhằm kiểm tra sự phù hợp với các tiêu chuẩn cơ bản thích hợp chỉ ra như dưới đây.

Kháng từ xấp xỉ

Mật độ ghi

Tiêu chuẩn áp dụng

≤ 35 kA/m (440 Oe)

...

...

...

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), ISO/IEC 8484

≥ 80 kA/m (1000 Oe)

≤ 12 bpmm (300 bpi)

TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6)

≥ 80 kA/m (1000 Oe)

40 bpmm (1016 bpi)

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

51,7 kA/m (650 Oe)

≤ 12 bpmm (300 bpi)

...

...

...

CHÚ THÍCH Các đặc tính dạng sóng và khử từ không áp dụng cho tất cả các tiêu chuẩn.

5.5.1  Tham chiếu hiệu chuẩn

Các thẻ có tham chiếu hiệu chuẩn được lựa chọn theo sự phù hợp với tiêu chuẩn cơ bản và được kiểm tra theo:

Thẻ tham chiếu

Tiêu chuẩn cơ bản

RM 7811-2

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

RM 7811-6

TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6)

...

...

...

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

CHÚ THÍCH 1 Các thẻ tham chiếu thứ cấp có thể được đặt hàng từ Q-Card, 301 Reagan Street, Sunbury PA 17801, USA đến ít nhất năm 2018. Thông tin này được đưa ra vì sự tiện lợi của người dùng tiêu chuẩn này và không cần thiết lập chứng thực bởi ISO/IEC cho sản phẩm đã đặt tên.

CHÚ THÍCH 2 Các chất làm sạch có thể gây hại cho các đặc tính đã chứng nhận. Bất kỳ thẻ tham chiếu đã xử lý không được coi là đã chứng nhận và phải bị hủy.

5.5.2  Dụng cụ

Một hệ thống ghi/đọc lại được yêu cầu gồm các hạng mục và đặc tính trong 5.5.2.1, 5.5.2.2, 5.5.2.3, và 5.5.2.4.

5.5.2.1  Truyền động cơ học

Thẻ được giữ phẳng trong khi đo.

Hệ thống truyền động phải thay đổi tốc độ vận chuyển trung bình không nhiều hơn ± 0,5% và áp lực đầu từ ổn định. Nếu truyền động sử dụng có thay đổi tốc độ lớn hơn ± 0,5%, thì sự thay đổi tốc độ được ghi với các kết quả thử nghiệm.

CHÚ THÍCH Các biến đổi về tốc độ và áp lực đầu từ làm giảm độ chính xác của phép đo. Đặc biệt, các biến đổi tốc độ tức thời (quá độ) ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo biên độ tín hiệu riêng biệt.

...

...

...

Đầu từ thử nghiệm gồm đầu đọc và ghi riêng biệt được cấu thành bên trong là vật liệu phi từ tính, như đồng hoặc nhôm.

Đề đảm bảo đáp ứng tần số thích hợp, đầu đọc phải được cấu tạo bằng kim loại nhiều lớp với chiều dày tối đa 0,18 mm (0.0071 in).

Lõi đầu ghi phải được cấu tạo bằng kim loại nhiều lớp phù hợp với Hình 12. Vật liệu khe hở phía trước phải được mạ đồng be-ri-li, giải phóng các tạp chất sắt từ. Không sử dụng các lớp phủ kháng mài mòn (xem Phụ lục A).

^a Các giá trị xem Bảng 2.

Hình 12 - Thử nghiệm các cán ép kim loại đầu (kích thước theo mm (inch), không phải theo tỉ lệ thang đo)

Cuộn dây 100 vòng phải được cắt trên từng đoạn lõi đầu ghi không nhiều hơn 2 lớp, với tất cả 4 mạch dẫn kết thúc trong các mạch dẫn ngoài, chỉ ra như trong Hình 13.

Hình 13 - Thử nghiệm kết nối cuộn đầu ghi (không phải theo tỉ lệ thang đo)

...

...

...

Bảng 2 - Qui định kỹ thuật đầu từ thử nghiệm

Chức năng đầu từ

Đọc

Ghi

Tiêu chuẩn cơ bản

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6) TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6)

...

...

...

Chiều dày dát mỏng

Lớn nhất 0,18 mm

(lớn nhất 0.0071 in)

Xem Hình 12

Bán kính độ cong †

19 mm ± 10 % (0.75 in ± 10 %) đối với đầu từ mới. Vùng phẳng tại khe hở cho phép.

Chiều rộng tiếp xúc với sọc từ

2,8 mm đến 3,5 mm

(0.11 in đến 0.14 in)

...

...

...

1,4 mm ± 10 %

(0.055 ± 10 %)

0,5 mm ± 10 %

(0.02 in ± 10 %)

Nhỏ nhất 2,79 mm

(nhỏ nhất 0.110 in)

Nhỏ nhất 1,0 mm

(nhỏ nhất 0.04 in)

Khe hở

...

...

...

(0.0005 in ± 10 %)

6 μm ± 10 %

(236 uin ± 10 %)

0,025 mm ± 10 %

(0.001 in ± 10 %)

0,051 mm ± 10 %

(0.002 in ± 10 %)

0,025 mm ± 10 %

(0.001 in ± 10 %)

...

...

...

Nhỏ nhất 0,8 T (nhỏ nhất 8 kgauss)

Nhỏ nhất 2,3 T

(nhỏ nhất 23 kgauss)

† Phạm vi vùng phẳng đầu từ thử nghiệm ảnh hưởng đến khả năng để duy trì tiếp xúc tốt với sọc từ. Cần thiết hiệu chuẩn lại khi đầu từ mòn.

Các đầu phải được gắn kết để chúng độc lập cơ học với nhau và để sai số phương vị nhỏ hơn 10 phút. Chứng phải được sắp xếp để đường chính giữa của rãnh đọc nằm trong ±0,15 mm so với đường chính giữa của rãnh ghi.

Lực ở đầu phải thiết lập ở mức nhỏ nhất cần thiết để đạt được đầu ra lớn nhất từ thẻ tham chiếu tại thời điểm hiệu chuẩn nhưng không quá 7 N (1.6 lbf).

CHÚ THÍCH Một lực ở đầu điển hình là 3 N (0.7 lbf).

...

...

...

Các dạng sóng của dòng điện ghi I, tại mật độ ghi danh định 8 ft/mm (200 ftpi) và 20 ft/mm (508 ftpi), phải được chỉ ra như trong Hình 14. Dạng sóng dòng điện phải duy trì trong giới hạn được chỉ ra như các dòng điện cắt.

Biến trong Hình 14

Yêu cầu đối với TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

Yêu cầu đối với TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

a

0,05 (T₁ + T₂)

0,10 (T₁ + T₂)

b

0,15 (T₁ + T₂)

...

...

...

c

0,30 (T₁ + T₂)

0,10 (T₁ + T₂)

d

1,02 I

1,02 I

e

0,98 I

0,98 I

...

...

...

0,90 I

0,90 I

Đối xứng

T₁ = T₂ ± 0,05 T₁

T₁ = T₂ ± 0,02 T₁

Hình 14 - Ghi dạng sóng dòng điện

5.5.2.4  Đọc hệ thống phụ

...

...

...

Độ phân giải của hệ thống phụ đọc ngược phải từ 85% đến 100% khi thử nghiệm trên thẻ tham chiếu sử dụng một dòng điện ghi thử nghiệm l_max (xem 5.5.3.3) và mật độ ghi thử nghiệm bằng:

Mật độ ghi thử nghiệm

Tiêu chuẩn cơ bản

8 ft/mm (200 ft/in) và 20 ft/mm (508 ft/in)

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

20 ft/mm (508 ft/in) và 40 ft/mm (1016 ft/in)

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

Hệ thống phụ phải gồm:

a) một khuếch đại tuyến tính

...

...

...

Dải này tương ứng với các đặc tính của thông dải bộ lọc được mô tả trong phần c) dưới đây. Ngoài dải này, đáp ứng có thể không tăng.

b) các phương tiện hiển thị và phép đo

Thiết bị như một máy hiện sóng lưu trữ cho việc xác định các biên độ của các đỉnh tín hiệu.

c) một bộ lọc thông dải

bộ lọc này phải được sử dụng cho tất cả phép đo ngoại trừ việc xóa (UA4) và xung lượng thêm (Ui4).

Các cạnh băng tần trên và dưới của bộ lọc phải chỉ ra đáp ứng theo thứ tự thứ 2 (độ dốc 12 dB/nhóm tám). Đáp ứng băng đi qua phải phẳng với độ rộng băng 0,2 dB các tần số tương ứng 0,25 vòng/mm (0,5 ft/mm) đến 10,5 vòng/mm (21 ft/mm). Hình 15 chỉ ra đặc tính được yêu cầu.

Đáp ứng bộ lọc phải tiếp tục đi xuống trong ít nhất một nhóm mười sau các cạnh băng tần và phải không tăng hơn -40 dB ngoài phạm vi nhóm mười này. Các chức năng lọc khác ngoài phạm vi nhóm mười có thể được sử dụng.

Vị trí

...

...

...

Mật độ chuyển tiếp dòng thử nghiệm

Tiêu chuẩn cơ bản

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), ISO/IEC 8484

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

Chu kỳ/mm (chu kỳ/in)

Ft/mm (ft/in)

...

...

...

0,009 (0.23)

0,018 (0.46)

2

0,025 (0.63)

0,05 (1.27)

3

10,5 (267)

28 (711)

21 (533)

...

...

...

4

30 (762)

80 (2032)

60 (1524)

160 (4064)

Hình 15 - Đặc tính bộ lọc

5.5.3  Qui trình

Toàn bộ trình tự đo phải được thực hiện trên cùng một thiết bị và trong cùng điều kiện.

Tất cả phép đo phải được thực hiện trong khi đọc theo cùng hướng ghi và được thực hiện sau cùng số đường đi qua.

...

...

...

Biểu thị đặc tính đầu ghi để tìm mối quan hệ giữa đầu ra thông lượng và dòng điện ghi theo cách thức sau đây.

Đối với mỗi biên độ dòng điện (I), lưu ý biên độ thông lượng tương ứng (F) sử dụng dụng cụ được mô tả trong Hình 16.

Điện áp/tuyến tính dòng của nguồn dòng hiện có phải lớn hơn ± 2 %.

Tổn hao tích hợp = 200π x RC xấp xỉ 6283 x RC phải ít nhất là 200.

Hình 16 - Thiết lập thử nghiệm đặc tính hóa đầu dò điển hình

5.5.3.2  Xác định Umax và IR từ thẻ tham chiếu

Vẽ đường cong bão hòa để xác định biên độ tín hiệu lớn nhất (U_max) và dòng tham chiếu (I_R) sử dụng thẻ tham chiếu (xem 5.5.1) và mật độ ghi thử nghiệm hiệu chuẩn phù hợp với tiêu chuẩn cơ bản. Đối với mỗi biên độ dòng điện, lưu ý giá trị tương đương của biên độ tín hiệu trung bình của thẻ tham chiếu.

Trước khi ghi ở mỗi dòng biên độ, xóa thẻ với dòng tần số cao xoay chiều. Mức độ xóa đủ để đảm bảo rằng các tín hiệu còn lại trung bình ít hơn 0,05U_R.

...

...

...

Thực hiện quá trình hiệu chỉnh ít nhất ba lần. Nếu sự thay đổi đầu ra lớn hơn 2% (nghĩa là ± 1%), lặp lại qui trình hiệu chỉnh.

CHÚ THÍCH 1 Bất kỳ tiếp xúc qua các đầu đọc hoặc ghi sau khi ghi qua, trước khi đọc qua, có thể ảnh hưởng đến giá trị kết quả của U_R.

CHÚ THÍCH 2 Người dùng được khuyên nên kiểm tra tính chính xác của thẻ tham chiếu định kỳ bằng cách so sánh các tín hiệu đầu ra giữa 5 thẻ tham chiếu đã được chứng nhận.

5.5.3.3  Xuất phát từ các giá trị tham chiếu

Tính biên độ tín hiệu tham chiếu (U_R) và thử nghiệm các dòng điện ghi (l_min và l_max) cho thẻ tham chiếu thứ cấp dưới đây. Hệ số hiệu chỉnh được cung cấp bởi nhà cung cấp các thẻ tham chiếu thứ cấp.

a) U_R = (biên độ lớn nhất tham chiếu thứ cấp) * (hệ số hiệu chỉnh biên độ)

hệ số hiệu chỉnh biên độ = (biên độ chuẩn cơ sở) / (biên độ tham chiếu thứ cấp)

b) I_R = (dòng tham chiếu thứ cấp) * (hệ số hiệu chỉnh dòng)

dòng tham chiếu thứ cấp = dòng khi U bằng 80 % tham chiếu thứ cấp lớn nhất

...

...

...

c) F_R = tham chiếu dòng khi dòng là I_R.

d) các giá trị dòng I_min và l_max phụ thuộc vào tiêu chuẩn cơ bản:

5.5.3.4  Đo thẻ theo thử nghiệm

Ghi và đọc thẻ khi thử nghiệm theo điều kiện thử nghiệm khác nhau được xác định bởi tiêu chuẩn cơ bản.

Xóa thẻ thử nghiệm với dòng xoay chiều tần số cao trước thử nghiệm và trước mỗi thử nghiệm riêng rẽ ngoại trừ việc xóa và xung bổ sung. Mức độ xóa đủ để đảm bảo các tín hiệu còn lại nhỏ hơn 0,05 U_R

Không xóa thẻ giữa hai lần ghi của bất kỳ thử nghiệm ghi đè mà yêu cầu cụ thể một sự so sánh giữa các biên độ tín hiệu trước và sau khi ghi đè

Trước khi xóa thẻ thử nghiệm về xóa và đo xung bổ sung, ghi với giá trị l_max phù hợp với tiêu chuẩn cơ bản và một mật độ thử nghiệm:

Mật độ ghi thử nghiệm

Tiêu chuẩn cơ bản

...

...

...

TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2),

TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6),

TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8),

ISO/IEC 8484

20 ft/mm (508 ft/in)

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

Trước khi thực hiện thử nghiệm về khử từ chống lại các yêu cầu trong tiêu chuẩn cơ bản, ghi thẻ với giá trị I_min phù hợp để tiêu chuẩn cơ bản tại một mật độ thử nghiệm:

Mật độ ghi thử nghiệm

Tiêu chuẩn cơ bản

...

...

...

TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6)

40 ft/mm (1016 ft/in)

TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)

5.5.4  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra các giá trị đo đại lượng xác định bởi tiêu chuẩn cơ bản.

Ngoài độ không đảm bảo đo tổng kết hợp với từng số lượng, nó cũng nói đến biến thiên tốc độ đo được của ổ đĩa nếu lớn hơn ± 0,5% và đề cập xem liệu đầu từ thử nghiệm có bao gồm các lớp phủ kháng mài mòn hay không.

5.6  Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng

Mục đích của thử nghiệm này là xác định sự biến đổi các vị trí chuyển tiếp dòng trên một mẫu thử nghiệm thẻ được mã hóa (xem TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), và ISO/IEC 8484).

5.6.1  Dụng cụ

...

...

...

Đặc biệt, dụng cụ duy trì độ chính xác về vị trí ± 0,5% tại 40 ft/mm (1016 ftpi) cho tất cả các tốc độ hoạt động trong khi thử nghiệm và phải kết cấu để bảo vệ khỏi các mảnh vỡ và nhiễm bẩn.

Đầu đọc phải được sắp xếp để đường chính giữa của rãnh đọc nằm trong khoảng ±0,15 mm của đường chính giữa rãnh ghi trong thử nghiệm.

CHÚ THÍCH Hoặc là vị trí đầu từ hoặc vị trí thẻ có thể được đo khi giữ vị trí khác không đổi.

Hình 17 thể hiện sơ đồ khối của dụng cụ.

Hình 17 - Vị dụ sơ đồ đo

5.6.2  Qui trình

Đặt thẻ mẫu thử nghiệm trong dụng cụ.

Lực ở đầu phải đặt lượng nhỏ nhất yêu cầu để đạt được đầu ra lớn nhất từ thẻ thử nghiệm tại thời điểm đo nhưng không quá 7 N (1.6 lbf).

...

...

...

5.6.3  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra cá giá trị được đo xác định bởi tiêu chuẩn cơ bản, cùng với độ không đảm bảo đo tổng cho mỗi giá trị.

5.7  Độ bám dính của sọc từ

Mục đích của thử nghiệm này là xác định độ bám dính giữa sọc từ và thân mẫu thử nghiệm thẻ (xem TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2), TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6), TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7), TCVN 11166-8 (ISO/IEC 7811-8), và ISO/IEC 8484).

5.7.1  Dụng cụ

Yêu cầu các hạng mục sau đây:

- công cụ cắt phiến mỏng đơn như định nghĩa trong TCVN 2097 (ISO 2409);

- băng dính trong suốt với cường độ bám dính được qui định trong 3.5, TCVN 2097 (ISO 2409), được thử nghiệm theo IEC 60454-2 và không rộng hơn 20 mm;

- kẹp giữ thẻ gồm một tấm kim loại hình chữ nhật cứng với khẩu độ chữ nhật 25 mm x 50 mm.

...

...

...

Thực hiện 2 vết cắt dài trong sọc từ khoảng 20 mm (0.75 in) cắt nhau gần giữa các sọc từ với một góc khoảng 20^o đến 45^o. Khi thực hiện cắt, sử dụng cạnh kẹp giữ thẻ và cắt qua sọc từ để thẻ trong trạng thái chuyển động ổn định. Đặt kẹp giữ thẻ trên thẻ với khẩu độ nằm giữa các giao điểm cắt nhau. Cắt một đoạn dài 75mm (3 inch) trên băng dính chịu lực và đặt băng dính trên sọc từ với khẩu độ của kẹp giữ thẻ. Nhẹ nhàng đặt băng dính vào vị trí trong vùng có vệt cắt một đầu ngón tay.

Hình 18 thể hiện thẻ được đặt dưới kẹp giữ thẻ, với băng dính tại chỗ đặt.

Trong vòng 5 min đặt băng dính, gỡ bỏ băng dính bằng cách giữ chặt điểm cuối tự do và kéo ra đều đặn, trong 0,5 s đến 1 s, trong khi vẫn duy trì một góc 60^o giữa phần tách ra của băng và phần vẫn gắn chặt vào bề mặt thẻ. Kẹp giữ thẻ phải giữ chắc thẻ để tránh bất kỳ di chuyển nào của thẻ khi bong vỏ.

Xem xét băng dính và vùng cắt chéo của sọc từ. Ghi bất kỳ bằng chứng về việc gỡ bỏ vật liệu từ tính từ thẻ.

Hình 18 - Thử nghiệm bám dính sọc từ (không theo tỷ lệ thang đo)

5.7.3  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải nêu, trong kiểm tra cuối cùng, liệu bất kỳ vật liệu được tìm thấy có bị xóa khỏi thẻ không. Nếu bất kỳ sự loại bỏ như vậy được tìm thấy thì báo cáo thử nghiệm phải mô tả bản chất và mức độ nghiêm trọng của nó.

5.8  Đặc tính từ tĩnh

...

...

...

CHÚ THÍCH Các đặc tính từ tĩnh trong TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6) và TCVN 11166-7-(ISO/IEC 7811-7) được xác định trong các phụ lục thông tin và bao gồm thông tin hướng dẫn. Phương pháp thử này chỉ đảm bảo tính nhất quán của các kết quả khi áp dụng các yêu cầu đặc tính từ tĩnh.

5.8.1  Dụng cụ

Thiết bị có khả năng sau đây:

a) trường thử nghiệm lớn nhất: ± H_max = ± 1 200 kA/m (± 15,000 Oe);

b) khả năng phép đo chính xác: H_c ± 2 %, SQ_|| ± 2 %, SFD (hoặc SF_S) ± 4 %, SQ_┴ ± 6 %, S₁₆₀ ± 4 %.

5.8.2  Qui trình

5.8.2.1  Điều kiện thử nghiệm

Nhiệt độ của mẫu từ 21 ^oC đến 23^oC (mặc định, nhiệt độ phòng).

CHÚ THÍCH Nhiệt độ của mẫu trong khi thử nghiệm phải ảnh hưởng đến giá trị đo được H_cM.

...

...

...

Hiệu chỉnh thiết bị theo các hướng dẫn của nhà sản xuất.

Chuẩn bị một mẫu theo các hướng dẫn của nhà sản xuất.

5.8.2.3  Phép đo

Thực hiện phép đo về các số lượng được yêu cầu, như mô tả dưới đây.

5.8.2.4  Đo vòng lặp từ trễ theo hướng dọc

Đặt hướng mẫu để hướng dọc theo hướng trường.

Đo Mô-men từ tính M của mẫu trên khoảng ± Hmax.

Vẽ đồ thị vòng lặp từ trễ sử dụng dữ liệu với mỗi 40 kA/m (500 Oe) lớn nhất cho đến khi mô-men từ (M) không còn thay đổi, và mỗi 4 kA/m (50 Oe) lớn nhất trong vùng H’cM. Một ví dụ được chỉ ra trong Hình 19.

...

...

...

Từ vòng lặp từ trễ thu được, tìm các giá trị về số lượng như sau:

- kháng từ H’_cM của mẫu;

- từ hóa bão hòa tại H_max M_max;

- từ hóa dư M_r;

- các giá trị trường H₁ và H₂ tương ứng ± 0,5 M_r.

Từ những điều này, tính toán tính vuông từ trễ theo chiều dọc SQ_|| và phân bố trường chuyển tiếp SF_S hoặc SF_D (phải vẽ đồ thị đạo hàm của vòng lặp từ trễ) như định nghĩa trong tiêu chuẩn cơ bản.

5.8.2.5  Phép đo vòng lặp từ trễ theo hướng vuông góc

Đặt hướng mẫu để hướng dọc tại 90^o ± 2^o theo hướng trường.

Đo Mô-men từ tính M của mẫu trên khoảng ± H_max.

...

...

...

Từ vòng lặp từ trễ thu được, tìm các giá trị về số lượng như sau:

- từ hóa bão hoà M_max;

- từ hóa dư M_r;

Tính toán tính vuông từ trễ pháp tuyến SQ_┴ như định nghĩa trong tiêu chuẩn cơ bản.

5.8.2.6  Đo khử từ tĩnh S160 theo hướng dọc

Đặt hướng mẫu để hướng dọc song song với hướng trường trong ± 2^o.

Áp dụng từ trường của +H_max và sau đó giảm nó về về 0 và đo lượng dư của mẫu Mr.

Tiếp đến áp dụng một từ trường -160 kA/m (-2,000 Oe) và sau đó giảm về 0 và đo lượng từ dư của mẫu. M+ (-160). Tính toán sự khử từ tĩnh S160 như xác định trong tiêu chuẩn cơ bản.

5.8.3  Báo cáo thử nghiệm

...

...

...

5.9  Dạng sóng Ui6

Mục đích của thử nghiệm này là xác định mức độ méo dạng sóng hiện diện trong dạng sóng đọc - quay lại khi ghi trong điều kiện được qui định (xem TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6) và ISO/IEC 15457-2).

5.9.1  Dụng cụ

Thử nghiệm phải được hướng dẫn cách sử dụng dụng cụ qui định trong 5.5 cho phép đo biên độ đối với tiêu chuẩn cơ bản TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6).

5.9.2  Qui trình

Thực hiện toàn bộ trình tự đo trên cùng thiết bị và trong cùng điều kiện.

Phép đo về việc đọc qua được thực hiện trong khi đọc theo chiều ghi. Chỉ đường ngang qua cần để khôi phục lại thẻ để vị trí bắt đầu của nó can thiệp vào giữa việc ghi qua và đọc qua mà trên đó phép đo được thực hiện.

Ghi và đọc thẻ trong điều kiện theo qui định của tiêu chuẩn cơ bản, với những hạn chế bổ sung sau đây:

a) mã hóa các chuyển tiếp dòng dọc theo toàn bộ chiều dài của vị trí rãnh 2 (toàn bộ chiều rộng của thẻ)

...

...

...

c) sử dụng qui trình trong tiêu chuẩn cơ bản, tìm giá trị lớn nhất Ui6 cho thẻ và ghi là giá trị Ui6 value.

5.9.3  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo phải đưa ra các giá trị số lượng thu được và nêu xem có hay không mỗi kết quả phù hợp với các yêu cầu của tiêu chuẩn cơ bản.

5.10  Ghi đè kháng từ cao, mật độ cao

Mục đích của thử nghiệm này là xác định mức độ méo dạng sóng hiện diện trong dạng sóng dòng gây ra bởi lịch sử ghi từ của sọc từ (xem TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7)).

5.10.1  Dụng cụ

Trong thử nghiệm phải hướng dẫn cách sử dụng dụng cụ qui định trong 5.5 cho phép đo biên độ, bao gồm bộ lọc, đối với tiêu chuẩn cơ bản TCVN 11166-7 (ISO/IEC 7811-7).

5.10.2  Phương pháp thử

Ghi toàn bộ chiều dài của sọc từ thẻ tại 20 ft/mm (508 ft/in) sử dụng dòng l_max. Ghi U_Fi7 tại 20 ft/mm (508 ft/in) sử dụng cửa sổ Hanning.

...

...

...

5.10.3  Báo cáo thử nghiệm

Báo cáo thử nghiệm phải đưa ra các giá trị U_Fi7 và U_Fi8 đạt được và phải nêu xem có hay không kết quả phù hợp với các yêu cầu của tiêu chuẩn cơ bản.

Phụ lục A

(tham khảo)

Ảnh hưởng của mài mòn trên đầu từ thử nghiệm và sử dụng đầu từ thử nghiệm kháng mài mòn

A.1  Ảnh hưởng mài mòn trên đầu từ thử nghiệm

Bán kính và hình học của đầu từ thử nghiệm được xác định trong tiêu chuẩn này rất quan trọng để hiệu chuẩn đầu từ thử nghiệm phù hợp với thử nghiệm. Đầu từ thử nghiệm có xu hướng xây dựng một “điểm phẳng” như một công cụ được sử dụng theo thời gian. Điểm phẳng ảnh hưởng đến các kết quả thử nghiệm. Đầu từ thử nghiệm phải được duy trì hoặc thay thế thường xuyên phụ thuộc vào tần suất sử dụng. Điểm phẳng sẽ được phát triển đến một vài giai đoạn nhất định mà tại đó các kết quả thử nghiệm không dựa vào thử nghiệm sự phù hợp. Người dùng nên kiểm tra mài mòn điểm phẳng và thay thế đầu từ khi kích thước W vượt quá khuyến cáo của nhà sản xuất thiết bị thử nghiệm. Nếu không có khuyến cáo về kích thước W, thì khuyến cáo mặc định là 2 mm cho W chỉ ra như trong Hình A.1.

Hình A1 - Kích thước W của một điểm phẳng

...

...

...

Các lớp phủ kháng mài mòn đưa ra các sai số phép đo vượt quá 7 % khi thử nghiệm các thẻ ID-1 phù hợp với TCVN 11166-2 (ISO/IEC 7811-2) và TCVN 11166-6 (ISO/IEC 7811-6). Trong khi thẻ được công nhận là tốc độ cao, thiết bị thử nghiệm dung lượng cao thường dùng các lớp phủ kháng mài mòn và/hoặc các tính năng không phù hợp khác, các kết quả đo chỉ nên thực hiện như chỉ dẫn, thậm chí khi có rất nhiều thông tin về vật liệu đó.

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1  Phạm vi áp dụng

2  Tài liệu viện dẫn

3  Thuật ngữ và định nghĩa

3.1  Phương pháp thử (test method)

3.2  Chức năng có thể thử nghiệm (testably functional)

...

...

...

3.4  Chuyển tiếp dòng trên mi-li-mét (flux transitions per millimeter)

3.5  Ghi (recording)

3.6  Mã hóa (encoding)

3.7  Độ nhám bề mặt (surface roughness)

3.8  Phép đo biên độ (amplitude measurements)

3.9  Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng (flux transition spacing variation)

3.10  Sự bám dính của sọc từ (magnetic stripe adhesion)

3.11  Sử dụng thông thường (normal use)

3.12  Vòng lặp M(H) bão hòa tĩnh (static saturation M(H) loop)

...

...

...

3.14  Kháng từ dư (remanent coercivity)

3.15  Ơxtet (Oersted)

3.16  Khử từ tĩnh (static demagnetization)

3.17  Tính vuông từ trễ (squareness)

3.18  Tính vuông từ trễ theo chiều dọc (longitudinal squareness)

3.19  Tính vuông từ trễ pháp tuyến (perpendicular squareness)

3.20  Trường chuyển tiếp theo đạo hàm (switching field by derivative)

3.21  Trường chuyển tiếp theo độ dốc (switching field by slope)

3.22  Góc của tính vuông từ trễ lớn nhất (angle of maximum squareness)

...

...

...

3.24  Độ lớn của các phần tử riêng tại tần số qui định trong phổ Fourier của toàn bộ dạng sóng của sọc từ

4  Hạng mục mặc định áp dụng đối với phương pháp thử

4.1  Môi trường thử nghiệm

4.2  Điều kiện ổn định trước

4.3  Lựa chọn phương pháp thử

4.4  Dung sai mặc định

4.5  Độ không đảm bảo đo tổng

5  Phương pháp thử

5.1  Độ vênh vùng sọc từ

...

...

...

5.3  Độ nhám bề mặt của sọc từ

5.4  Thử nghiệm mài mòn sọc từ

5.5  Phép đo biên độ

5.6  Biến đổi cách khoảng chuyển tiếp dòng

5.7  Độ bám dính của sọc từ

5.8  Đặc tính từ tĩnh

5.9  Dạng sóng Ui6

5.10  Ghi đè kháng từ cao, mật độ cao

Phụ lục A (tham khảo) Ảnh hưởng của mài mòn trên đầu từ thử nghiệm và sử dụng đầu từ thử nghiệm kháng mài mòn

...

...

...

A.2  Đầu từ thử nghiệm với lớp phủ kháng mài mòn

1 TCVN 8095-221:2010 hoàn toàn tương đương IEC 60050-221:1990/AMD 1:1993, AMD 2:1999 And AMD 3:2007.

2 TCVN 7870-6:2010 hoàn toàn tương đương IEC 80000-6:2008.

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 11688-2:2016 (ISO/IEC 10373-2:2015) về Thẻ định danh - Phương pháp thử - Phần 2: Thẻ có sọc từ