Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10884-3:2015 (IEC 60664-3:2010) về Phối hợp cách điện dùng cho thiết bị trong hệ thống điện hạ áp - Phần 3: Sử dụng lớp phủ, vỏ bọc hoặc khuôn đúc để bảo vệ chống nhiễm bẩn

Tải văn bản

Thuộc tính
Nội dung
Tiếng anh
Lược đồ

Giá trị đỉnh lớn nhất của điện áp bất kỳ ^a)	Khoảng giãn cách nhỏ nhất
kV	mm
≤ 0,33	0,01
> 0,33 và ≤ 0,4	0,02
> 0,4 và ≤ 0,5	0,04
> 0,5 và ≤ 0,6	0,06
> 0,6 và ≤ 0,8	0,1
> 0,8 và ≤ 1,0	0,15
>1,0 và ≤ 1,2	0,2
> 1,2 và ≤ 1,5	0,3
> 1,5 và ≤ 2,0	0,45
> 2,0 và ≤ 2,5	0,6
> 2,5 và ≤ 3,0	0,8
> 3,0 và ≤ 4,0	1,2
> 4,0 và ≤ 5,0	1,5
> 5,0 và ≤ 6,0	2
> 6,0 và ≤ 8,0	3
> 8,0 và ≤ 10	3,5
> 10 và ≤ 12	4,5
> 12 và ≤ 15	5,5
> 15 và ≤ 20	8
> 20 và ≤ 25	10
> 25 và ≤ 30	12,5
> 30 và ≤ 40	17
> 40 và ≤ 50	22
> 50 và ≤ 60	27
> 60 và ≤ 80	35
> 80 và ≤ 100	45
^a) Bỏ qua quá điện áp quá độ vì chúng ít có khả năng làm hỏng phần được bảo vệ.

Kiểm tra sự phù hợp bằng phép đo khoảng giãn cách trước khi áp dụng bảo vệ.

5 Thử nghiệm

5.1 Quy định chung

Sự thích hợp của bảo vệ được đánh giá bằng cách thực hiện tất cả các thử nghiệm được mô tả trong 5.8 sau khi ổn định theo 5.7.

CHÚ THÍCH: Sự thích hợp của bảo vệ được đánh giá sau thử nghiệm chịu xước mô tả trong 5.5 kiểm tra bằng mắt mô tả trong 5.6 và sau đó là ổn định được mô tả trong 5.7.

Sáu mẫu thử được sử dụng nếu không có quy định khác của ban kỹ thuật. Ngoài ra, ban kỹ thuật có thể quy định các thử nghiệm bổ sung của 5.9, mỗi thử nghiệm được thực hiện trên một mẫu thử mới.

CHÚ THÍCH: Trong tiêu chuẩn này, khi nhắc đến ban kỹ thuật nghĩa là đề cập đến các ban kỹ thuật của các sản phẩm cụ thể liên quan.

Các thử nghiệm này được thiết kế để thử nghiệm điển hình. Ban kỹ thuật cần xem xét thử nghiệm được quy định cho thử nghiệm thường xuyên và thử nghiệm mẫu.

Trình tự các thử nghiệm được thể hiện trong Phụ lục A.

...

Bạn phải đăng nhập hoặc đăng ký Thành Viên TVPL Pro để sử dụng được đầy đủ các tiện ích gia tăng liên quan đến nội dung TCVN.

Mọi chi tiết xin liên hệ: ĐT: (028) 3930 3279 DĐ: 0906 22 99 66

Phụ lục B liệt kê các quyết định cần thiết phải thực hiện bởi ban kỹ thuật khi đề cập đến tiêu chuẩn này.

5.2 Mẫu thử để thử nghiệm lớp phủ

Mẫu thử nghiệm có thể là

- mẫu thử nghiệm theo Phụ lục C, mà được áp dụng riêng cho bảng mạch đi dây mạch in. Mẫu được sử dụng cho thử nghiệm phải có cùng khoảng cách nhỏ nhất như các sản phẩm trong loạt sản xuất;

- mẫu thử nghiệm từ loạt sản xuất;

- bảng mạch in bất kỳ, miễn là mẫu thử nghiệm đại diện cho các sản phẩm từ loạt sản xuất.

5.3 Mẫu thử để thử nghiệm khuôn đúc và vỏ bọc

Phải sử dụng mẫu thử loạt sản xuất, hoặc chúng phải đại diện cho các sản phẩm từ loạt sản xuất.

5.4 Chuẩn bị mẫu thử nghiệm

...

5.5 Thử nghiệm chịu xước

CHÚ THÍCH: Trong một số trường hợp, thử nghiệm chịu xước không thể áp dụng cho các cụm lắp ráp được bảo vệ chống nhiễm bẩn bằng cách sử dụng vỏ bọc hoặc khuôn đúc. Trong những trường hợp như vậy, việc xem xét các thử nghiệm thay thế hoặc thử nghiệm bổ sung có thể cần thiết.

Vết xước phải được thực hiện ngang qua năm cặp phần dẫn điện và các khoảng cách xem kẽ giữa chúng tại các điểm mà cách điện sẽ chịu cường độ điện trường lớn nhất giữa các đường dẫn.

Lớp bảo vệ phải được cào xước bằng một đinh thép cứng, phần đầu của đinh có dạng nón với góc 40°. Đầu của đinh phải được làm tròn và mài nhẵn, với bán kính 0,25 mm ± 0,02 mm. Đinh thép phải được đặt tải sao cho lực tác dụng dọc trục là 10 N ± 0,5 N. Các vết xước phải được tạo ra bằng cách vẽ đinh thép dọc theo mặt phẳng vuông góc với mép đường dẫn của lớp bảo vệ ở tốc độ xấp xỉ 20 mm/s như thể hiện trên Hình 1. Năm vết xước phải được thực hiện cách nhau ít nhất 5 mm và cách mép ít nhất 5 mm.

CHÚ THÍCH: Đinh thép nằm trên mặt phẳng ABCD vuông góc với mẫu chịu thử nghiệm.

Hình 1 - Thử nghiệm chịu xước đối với các lớp bảo vệ

5.6 Kiểm tra bằng mắt

Mẫu thử phải được kiểm tra bằng mắt theo thử nghiệm 3V02 trong 6.2 của IEC 61189-3:2007.

...

- bong tróc;

- phồng rộp;

- bị tách khỏi vật liệu nền

- rạn nứt;

- có khoảng rỗng;

- có bề mặt với các phần dẫn điện không được bảo vệ liền kề, ngoại trừ điểm dẫn để thử nghiệm;

- sự ăn mòn về điện.

5.7 Ổn định mẫu thử nghiệm

Các phương pháp ổn định thích hợp với phần lớn các ứng dụng. Đối với các ứng dụng đặc thù, sự thay đổi các tham số quy định đối với việc ổn định có thể thích hợp và cần được xem xét bởi ban kỹ thuật.

...

5.7.1 Lạnh

Ổn định lạnh (mô phỏng việc bảo quản và vận chuyển) được thực hiện theo thử nghiệm Ab của TCVN 7699-2-1 (IEC 60068-2-1). Các mức khắc nghiệt phải được quy định bởi ban kỹ thuật và được chọn từ các giá trị dưới đây:

- 10°C

- 25 °C

- 40 °C

- 65 °C

Thời gian thử nghiệm là 96 h.

5.7.2 Nóng khô

Ổn định nóng khô được thực hiện theo thử nghiệm Bb của TCVN 7699-2-2 (IEC 60068-2-2). Tuy nhiên, thời gian và nhiệt độ ổn định tương ứng với thành phần của bảng mạch in và nhiệt độ bề mặt làm việc thể hiện trong Bảng 2.

...

Vật liệu nhựa/nền

Nhiệt độ bề mặt làm việc lớn nhất

°C

Nhiệt độ ổn định

°C

Thời gian ổn định

Giấy epoxide/cellulose

105

...

165

125

1 000

Bề mặt thủy tinh epoxide/dệt, lõi giấy cellulose

140

100

175

...

1 000

Bề mặt thủy tinh epoxide/dệt, lõi thủy tinh không dệt

140

100

175

...

1 000

Thủy tinh epoxide/dệt

140

100

175

...

1 000

Miếng lót polyester/thủy tinh

160

100

200

...

100

1 000

Giấy phenolic/cellulose (với tính bắt lửa được xác định - thử nghiệm cháy dọc) ^a⁾

110

155

110

...

1 000

Giấy phenolic/cellulose

125

100

170

140

110

1 000

...

1 000

^a⁾ Đối với tính bắt lửa được xác định, đề cập đến 8.6 của IEC 61189-2:2006 và Phần 2 liên quan của IEC 61249.

5.7.3 Thay đổi nhanh của nhiệt độ

Ổn định thay đổi nhanh của nhiệt độ theo thử nghiệm Na của IEC 60068-2-14. Nhiệt độ theo Bảng 3, với độ khắc nghiệt được quy định bởi ban kỹ thuật.

Bảng 3 - Độ khắc nghiệt đối với thay đổi nhanh của nhiệt độ

Độ khắc nghiệt

Nhiệt độ nhỏ nhất

°C

Nhiệt độ lớn nhất

...

- 10

125

- 25

125

- 40

125

...

- 65

125

Ổn định được thực hiện như sau:

Thời gian một chu kỳ

1 h (30 min ± 2 min ở mỗi nhiệt độ)

Tốc độ thay đổi nhiệt độ

trong vòng 30 s

Số chu kỳ

...

5.7.4 Nóng ẩm, không đổi với điện áp phân cực

5.7.4.1 Ổn định chung

Mẫu thử phải được đặt trong tủ ẩm trong 96 h ở điều kiện theo thử nghiệm Cab của TCVN 7699-2-78 (IEC 60068-2-78) như sau:

Nhiệt độ

40 °C ± 2 °C

Độ ẩm tương đối

93 %

Đặt một điện áp một chiều 100 V vào giữa đường dẫn và điểm dẫn để thử nghiệm liền kề. Khi sử dụng mẫu thử theo Phụ lục C, cực dương của nguồn phải được nối đến “thông thường”.

Kết quả thử nghiệm được đánh giá theo 5.6, 5.8.3, 5.8.4 và 5.8.5.

...

Khi thiết bị có thể được kỳ vọng phải chịu các điều kiện khắc nghiệt bất thường về nhiễm bẩn và ẩm với khoảng thời gian đủ lớn trong suốt vòng đời vận hành của nó, ban kỹ thuật cần quy định thử nghiệm điện áp một chiều dài hơn trong điều kiện nóng ẩm.

Để giảm thiểu tổng thời gian thử nghiệm, nên thực hiện thử nghiệm này trên sáu mẫu thử mới mà chỉ trải qua quá trình hàn (5.4), thử nghiệm chịu xước (5.5) và kiểm tra bằng mắt (5.6). Thử nghiệm được thực hiện theo 5.7.4.1. Thời gian ưu tiên là 10 ngày, 21 ngày hoặc 56 ngày.

5.8 Thử nghiệm cơ và thử nghiệm điện sau ổn định và ăn mòn về điện

5.8.1 Điều kiện thử nghiệm chung

Các thử nghiệm được thực hiện trong phòng có nhiệt độ trong khoảng từ 15 °C đến 35 °C và độ ẩm tương đối từ 45 % đến 75 %.

Đối với các thử nghiệm của 5.8.3, 5.8.4, và 5.8.5, mẫu thử được đặt trong tủ có nhiệt độ 40 °C ± 2 °C và độ ẩm tương đối 93 % theo TCVN 7699-2-78 (IEC 60068-2-78) trong 48 h.

5.8.2 Độ bám dính của lớp phủ

Bề mặt được thử nghiệm phải chứa các đoạn vật liệu phủ kim loại và vật liệu nền.

Phải làm sạch mẫu thử với dung môi hữu cơ thích hợp rồi để khô.

...

Dùng một đoạn băng dài 50 mm cho mẫu thử. Các bong bóng khí được loại trừ bằng cách sử dụng các phương tiện như áp lực ngón tay, trục lăn bằng tay hoặc một cái tẩy.

Trong 10 s, băng được tháo bằng cách kéo nhanh xấp xỉ vuông góc với bề mặt mẫu thử.

CHÚ THÍCH: Lực kéo có thể đạt được nhỏ nhất có thể được quy định bởi ban kỹ thuật.

Sau thử nghiệm, lớp phủ không được long ra và không có vật liệu bị dính vào băng có thể nhìn thấy bằng mắt thường. Để đánh giá xem có sự dịch chuyển của vật liệu hay không, băng có thể được đặt lên một tờ giấy hoặc thẻ trắng. Nếu thử nghiệm lớp phủ trắng hoặc màu sáng, thì sử dụng một tờ giấy hoặc thẻ có màu tương phản thích hợp để thay thế.

5.8.3 Điện trở cách điện giữa các đường dẫn

Thử nghiệm phải được thực hiện theo 10.3 của IEC 61189-3:2007, điện áp quy định cho phương pháp 3E03 gần nhất có thể với điện áp làm việc.

Giá trị nhỏ nhất cho điện trở cách điện giữa các đường dẫn phải là 100 MΩ, trừ khi có các quy định khác của ban kỹ thuật.

5.8.4 Thử nghiệm điện áp chịu thử xoay chiều

Các thử nghiệm điện trên mẫu thử được bảo vệ phải được thực hiện theo 6.1.3.4 của Phần 1 với ngoại lệ rằng điện áp thử nghiệm hoặc được quy định trong 5.3.3.2.3 của Phần 1 hoặc bằng 0,707 lần điện áp xung danh định liên quan theo Bảng F.1 của Phần 1, lấy giá trị cao hơn. Nếu bộ phận chịu độ nhiễm bẩn 3 hoặc 4, thử nghiệm điện áp chịu thử phải được thực hiện với một lớp dẫn điện trên bề mặt của bảo vệ để mô phỏng độ nhiễm bẩn.

...

Cách điện tăng cường phải được thử nghiệm gấp hai lần điện áp thử nghiệm yêu cầu đối với cách điện chính.

5.8.5 Điện áp dập tắt phóng điện cục bộ

Thử nghiệm phóng điện cục bộ chỉ được thực hiện đối với bảo vệ kiểu 2. Điện áp dập tắt phóng điện cục bộ là 700 V đỉnh hoặc giá trị đỉnh của điện áp làm việc nhân với hệ số liên quan mô tả trong 6.1.3.5 của Phần 1, lấy giá trị nào lớn hơn. Nếu bộ phận phải chịu nhiễm bẩn độ 3 hoặc 4, phép đo điện áp dập tắt phóng điện cục bộ phải được thực hiện với một lớp dẫn điện trên bề mặt của bảo vệ.

Điện áp dập tắt phóng điện cục bộ đạt được khi độ lớn phóng điện không vượt quá 5 pC.

5.9 Thử nghiệm bổ sung

Ban kỹ thuật có thể yêu cầu thực hiện thêm một hoặc nhiều thử nghiệm sau.

5.9.1 Khả năng chịu nhiệt hàn

Thử nghiệm phải được thực hiện theo thử nghiệm 3N02 của 11.2 trong IEC 61189-3:2007.

Thời gian nổi phải là 20 s. Sau thử nghiệm, mẫu thử phải được đánh giá theo 5.6.

...

Thử nghiệm phải được thực hiện theo thử nghiệm 3C02 của 8.2 trong IEC 61189-3:2007. Nhiệt độ phải được quy định bởi ban kỹ thuật thích hợp.

Thử nghiệm phải được thực hiện trên cụm lắp ráp được bảo vệ và không được bảo vệ. Kết quả thử nghiệm không được bị ảnh hưởng bất lợi bởi bảo vệ.

5.9.3 Khả năng chịu dung môi

Thử nghiệm này phải được thực hiện theo thử nghiệm 17a của 8.5 trong IEC 60326-2.

Thử nghiệm phải được thực hiện bằng cách sử dụng dung môi hữu cơ theo thỏa thuận giữa người mua và nhà cung cấp và thích hợp với ứng dụng.

CHÚ THÍCH: Trong quá trình xử lý dung môi hữu cơ, cần sử dụng thiết bị bảo vệ cá nhân thích hợp.

Sau thử nghiệm, dung môi phải được loại bỏ và mẫu thử phải được đánh giá theo 5.6.

PHỤ LỤC A

...

Trình tự thử nghiệm

Lưu đồ dưới đây chỉ ra thứ tự mà các thử nghiệm của Điều 5 phải thực hiện. Không được phép có hỏng hóc bất kỳ mẫu thử nào.

PHỤ LỤC B

(quy định)

Các quyết định của ban kỹ thuật

Khi đề cập đến tiêu chuẩn này, yêu cầu ban kỹ thuật quyết định các mức khắc nghiệt cho một số thử nghiệm và được phép điều chỉnh một số điều kiện thử nghiệm

B.1 Quyết định được yêu cầu bởi ban kỹ thuật

...

5.7.1

Lạnh

Nhiệt độ khắc nghiệt

5.7.3

Thay đổi nhanh nhiệt độ

Độ khắc nghiệt

5.9.2

Tính bắt lửa

Nhiệt độ thử nghiệm (nếu thử nghiệm được quy định)

...

Các điều kiện thử nghiệm sau có thể thay đổi:

Các thử nghiệm

Số lượng mẫu thử

Quy định thử nghiệm thường xuyên

5.7

Ổn định mẫu thử

Điều chỉnh các tham số

5.7.3

...

Số lượng chu kỳ

5.7.4.2

Ổn định bổ sung đối với ăn mòn về điện

Thời gian thử nghiệm nóng ẩm

5.8.2

Độ bám của lớp phủ

Quy định lực kéo

5.8.3

Điện trở cách điện giữa các đường dẫn

...

5.9

Các thử nghiệm bổ sung

Quy định thử nghiệm bổ sung nào là cần thiết

5.9.3

Khả năng chịu dung môi

Quy định dung môi

PHỤ LỤC C

(quy định)

...

Bảng mạch đi dây mạch in được mô tả trong phụ lục này thích hợp để đánh giá lớp phủ mà phải chịu thử nghiệm theo tiêu chuẩn này.

C.1 Yêu cầu kỹ thuật của bảng mạch đi dây mạch in

Để tính đến hầu hết các điều kiện không thuận lợi, các tiêu chí sau phải được xem xét để cung cấp một mẫu thử tiêu chuẩn:

- vật liệu nền;

- vật liệu phủ;

- vật liệu đường dẫn;

- độ bám lẫn nhau của các vật liệu;

- chiều dày vật liệu phủ;

- chiều dày, chiều rộng và hình dạng đường dẫn;

...

- cấu hình trường điện.

Mẫu thử tiêu chuẩn phải chứa cùng loại vật liệu và phải sử dụng cùng quá trình xử lý như bảng mạch in như khi được chế tạo hàng loạt. Ví dụ, mẫu thử tiêu chuẩn phải chịu tất cả các quá trình (ví dụ làm sạch và hàn) mà bảng mạch in phải chịu trong ứng dụng cụ thể.

Kích thước của mẫu thử tiêu chuẩn được thể hiện trên Hình C.1 cho phép khoảng giãn cách của đường dẫn lên đến 0,5 mm và chiều rộng đường dẫn lên đến 2 mm. Đối với khoảng giãn cách đường dẫn lớn hơn hoặc chiều rộng đường dẫn lớn hơn, cần sử dụng bảng mạch lớn hơn so với giá trị thể hiện trên Hình C.1.

Mẫu thử tiêu chuẩn phải có các cấu hình như thể hiện trên Hình C.1 và Hình C.2.

C.2 Bố trí đường dẫn

Mười cặp đường dẫn song song, mỗi đường dẫn có chiều dài 100 mm, được nối xen kẽ nhau ở các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch ở cả hai phía của bảng mạch in, như thể hiện trong phần C của Hình C.1:

- khoảng giãn cách giữa năm cặp đường dẫn đầu tiên bằng khoảng giãn cách nhỏ nhất sẽ được sử dụng trong chế tạo. Các đường dẫn này được thể hiện trong phần A của Hình C.1;

- khoảng giãn cách giữa năm cặp đường dẫn còn lại bằng khoảng giãn cách được sử dụng trong chế tạo khi xảy ra ứng suất điện cao nhất. Các đường dẫn này được thể hiện trong phần B của Hình C.1.

Các đường dẫn kết thúc bên phía tay trái của bảng mạch in (mặt X) có cùng chiều rộng. Chiều rộng này tương đương với chiều rộng nhỏ nhất được sử dụng trong chế tạo.

...

Chiều rộng đường dẫn là một tham số quan trọng liên quan đến độ bám của lớp phủ. Vì vậy chiều rộng trung gian phải, đại diện nhiều nhất có thể cho chiều rộng được sử dụng trong chế tạo.

Đầu của các đường dẫn đối diện với các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch phải được tạo thành như sau:

- mở rộng đến 1 mm đường kính, đối với đường dẫn có chiều rộng nhỏ hơn 1 mm;

- nửa đường tròn, đối với đường dẫn có chiều rộng lớn hơn hoặc bằng 1 mm.

Khoảng giãn cách giữa các cặp đường dẫn liền kề bằng ít nhất năm lần khoảng giãn cách giữa cặp đường dẫn.

Phần của bảng mạch in được bao gồm bởi vùng C trên Hình C.1 được phủ, trừ phần các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch.

C.3 Bố trí điểm dẫn để thử nghiệm

Tám mươi tư (84) điểm dẫn để thử nghiệm phải được bố trí thành sáu nhóm, mỗi nhóm gồm hai hàng, mỗi hàng có bảy điểm dẫn để thử nghiệm, như được thể hiện trên vùng L của Hình C.1. Các điểm dẫn để thử nghiệm phải có đường dẫn bao quanh ba phía, như thể hiện trên Hình C.2.

Khoảng giãn cách giữa các điểm dẫn để thử nghiệm và đường dẫn đối với ba nhóm khác bằng khoảng giãn cách nhỏ nhất được sử dụng trong chế tạo, thể hiện như vùng M trên Hình C.1.

...

Kích thước các điểm dẫn để thử nghiệm, cùng với kích thước và bố trí đường dẫn, phải là đại diện của chúng được sử dụng trong chế tạo. Ví dụ của các điểm dẫn để thử nghiệm và bố trí đường dẫn khác nhau được thể hiện trên Hình C.2.

Tất cả các điểm dẫn để thử nghiệm trong mỗi nhóm được nối với nhau và kết thúc ở các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch bên phía tay phải của bảng mạch in (mặt Y). Tất cả các đường dẫn trong mỗi nhóm được nối với nhau và kết thúc ở các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch bên phía tay trái của bảng mạch (mặt X).

Phần của bảng mạch in được bao gồm bởi vùng L trên Hình C.1 được phủ, trừ phần các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch. Ngoài ra, các điểm dẫn để thử nghiệm không được phủ nếu trong chế tạo cũng không phủ.

C.4 Đấu nối cho thử nghiệm

Các phép đo yêu cầu trong 5.8.3, 5.8.4 và 5.8.5 được thực hiện giữa các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch X và các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch tương ứng Y.

Đối với các thử nghiệm của 5.7.4.1 và 5.7.4.2, các các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch của mặt Y được nối với nhau bằng bộ nối ngắn mạch. Điện áp thử nghiệm được đặt giữa các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch thông thường trên mặt X và tất cả các các điểm tiếp xúc tại rìa của bảng mạch còn lại được nối với nhau.

Hình C.1 - Cấu hình của mẫu thử nghiệm

...

THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO

IEC 60194:2006, Printed board design, manufacture and assembly - Terms and definitons (Thiết kế, chế tạo và lắp đặt bàng mạch in - Thuật ngữ và định nghĩa)

MỤC LỤC

Lời nói đầu

1 Phạm vi áp dụng

2 Tài liệu viện dẫn

3 Thuật ngữ và định nghĩa

...

5 Thử nghiệm

Phụ lục A (quy định) - Trình tự thử nghiệm

Phụ lục B (quy định) - Các quyết định của ban kỹ thuật

Phụ lục C (quy định) - Bảng mạch đi dây mạch in để thử nghiệm lớp phủ

Thư mục tài liệu tham khảo

1) Hệ thống tiêu chuẩn quốc gia đã có TCVN 7699-2:2007 đương với IEC 60068-2-14:1984.

Nội dung văn bản đang được cập nhật

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 10884-3:2015 (IEC 60664-3:2010) về Phối hợp cách điện dùng cho thiết bị trong hệ thống điện hạ áp - Phần 3: Sử dụng lớp phủ, vỏ bọc hoặc khuôn đúc để bảo vệ chống nhiễm bẩn

Số hiệu:	TCVN10884-3:2015
Loại văn bản:	Tiêu chuẩn Việt Nam
Nơi ban hành:	***
Người ký:	***
Ngày ban hành:	01/01/2015
Ngày hiệu lực:	Đã biết
Tình trạng:	Đã biết

Văn bản được hướng dẫn - [0]

Văn bản được hợp nhất - [0]

Văn bản bị sửa đổi bổ sung - [0]

Văn bản bị đính chính - [0]

Văn bản bị thay thế - [0]

Văn bản được dẫn chiếu - [7]

Văn bản được căn cứ - [0]

Văn bản liên quan ngôn ngữ - [0]

Văn bản đang xem

Văn bản liên quan cùng nội dung - [6]

Văn bản hướng dẫn - [0]

Văn bản hợp nhất - [0]

Văn bản sửa đổi bổ sung - [0]

Văn bản đính chính - [0]

Văn bản thay thế - [0]

- 14 +

Tải Văn bản tiếng Việt
Tải Văn bản gốc

Chưa có Video

Hãy đăng nhập hoặc đăng ký Tài khoản để biết được tình trạng hiệu lực, tình trạng đã bị sửa đổi, bổ sung, thay thế, đính chính hay đã được hướng dẫn chưa của văn bản và thêm nhiều tiện ích khác