PHỤ LỤC A

(tham khảo)

Định nghĩa

Để có nội dung chi tiết: xem ISO 14660-1

Yếu tố (feature): Điểm, đường hoặc bề mặt.

Yếu tố bề mặt (integral feature): Mặt hoặc đường trên một bề mặt.

Yếu tố dẫn xuất (derived feature): Điểm tâm, đường hoặc mặt phẳng trung tuyến được suy ra từ một hoặc nhiều yếu tố bề mặt.

Yếu tố kích thước (feature of size): Hình dạng hình học được xác định bởi một kích thước độ dài.

...

...

...

Yếu tố dẫn xuất danh nghĩa (nominal derived feature): Điểm tâm, đường thẳng hoặc mặt phẳng trung tuyến được suy ra từ một hoặc nhiều yếu tố bề mặt danh nghĩa.

Bề mặt thực của chi tiết gia công (real surface of a workpiece): Tập hợp các yếu tố vốn có trên chi tiết gia công và ngăn cách toàn bộ chi tiết gia công với môi trường xung quanh.

Yếu tố thực [real (integral) feature]: Phần yếu tố bề mặt của một bề mặt thực của chi tiết gia công được giới hạn bởi các yếu tố (bề mặt) thực liền kề.

Yếu tố bề mặt được xem xét (extracted integral feature): Yếu tố biểu thị gần đúng của yếu tố (bề mặt) thực, có được bằng cách suy ra một số lượng giới hạn các điểm từ yếu tố (bề mặt) thực.

CHÚ THÍCH - Sự tính ra này được thực hiện phù hợp với các qui ước quy định .

Yếu tố dẫn xuất được xem xét (extracted derived feature): Điểm tâm, đường hoặc mặt phẳng trung tuyến được suy ra từ một hoặc nhiều yếu tố bề mặt xem xét.

Yếu tố bề mặt liên kết (associated integral feature): Yếu tố bề mặt có dạng hoàn thiện liên kết với yếu tố bề mặt xem xét phù hợp với các quy ước quy định.

Yếu tố dẫn xuất liên kết (associated derived feature): Điểm tâm, đường hoặc mặt phẳng trung tuyến được suy ra từ một hoặc nhiều yếu tố bề mặt liên kết.

...

...

...

(tham khảo)

Cách ghi dung sai trước đây

Cách ghi dung sai trước đây đòi hỏi phải xác định vị trí riêng của một nhóm các yếu tố bằng cách ghi dung sai vị trí và mô hình các yếu tố bởi các dung sai theo tọa độ (xem hình B.1).

Hình B.1 Ghi trên bản vẽ

Cách ghi dung sai này không được sử dụng nữa, bởi vì ý nghĩa của các khoảng cách có dung sai 16 ± 0,5 và 18 ± 0,5 không được tiêu chuẩn hóa. Nên dùng cách ghi dung sai theo điều 5 để thay thế.

PHỤ LỤC C

(tham khảo)

...

...

...

Để có nội dung chi tiết về mô hình ma trận GPS: xem ISO/TR 14638.

C.1. Thông tin về tiêu chuẩn này và việc sử dụng nó

Tiêu chuẩn này xác định các phương pháp để ghi các dung sai vị trí trên các bản vẽ kỹ thuật.

Tiêu chuẩn này cũng trình bày tỉ mỉ hơn về các khái niệm dung sai vị trí được quy định trong ISO 1101.

C.2. Vị trí trong mô hình ma trận GPS

Tiêu chuẩn này là một tiêu chuẩn tổng quát về GPS có ảnh hưởng đến các khâu 1 và 2 của một chuỗi các tiêu chuẩn về vị trí trong ma trận tổng quát GPS như đã minh họa bằng biểu đồ trên hình C.1.

Hình C.1

C.3. Các tiêu chuẩn quốc tế có liên quan

...

...

...

THƯ MỤC TÀI LIỆU THAM KHẢO

[1] ISO 1660 : 1987 Technical drawings - Dimensioning and tolerancing of profiles (Bản vẽ kỹ thuật - Ghi kích thước và dung sai của profin).

[2] ISO 2692 : 1988 Technical drawings - Geometrical tolerancing - Maximum material principles (Bản vẽ kỹ thuật - Dung sai hình học - Nguyên tắc vật liệu lớn nhất).

[3] ISO 3098-1: 2001 Technical drawings - Lettering - Part 1: latin alphabet, numerals and marks (Bản vẽ kỹ thuật - Chữ viết - Phần 1: Chữ cái La tinh, chữ số và dấu).

[4] ISO 5459 : 1981 Technical drawings - Geometrical tolerancing - Datums and datum-systems for geometrical tolerancing (Bản vẽ kỹ thuật - Dung sai hình học - Các yếu tố chuẩn và hệ thống các yếu tố chuẩn đối với dung sai hình học).

[5] ISO/TR 14638 : 1995 Geometrical product specifications (GPS) - masterplan (Đặc tính hình học của sản phẩm (GPS) - Sơ đồ chính).

[6] ISO 14660 -1: 1999 Geometrical product specifications (GPS) - Geometric features - Part 1: General terms and definitions (Đặc tính hình học của sản phẩm (GPS) - Các yếu tố hình học - Phần 1: Thuật ngữ chung và định nghĩa).

Tiêu chuẩn quốc gia TCVN 7295:2003 (ISO 5458 : 1998) về Đặc tính hình học của sản phẩm (GPS) - Dung sai hình học - Ghi dung sai vị trí